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    芯片檢測顯微鏡DYJ-895
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    芯片檢測顯微鏡DYJ-895

    正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應用于透明,半透明或不透明物質,比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡,都能有很好的成像效果。

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      ,儀器簡介
          DYJ-895芯片檢測顯微鏡可以用于對不透明試樣的顯微觀察。采用性能優良的無限遠光學系統,具有模塊化功能設計方案,讓使用人員方便升級顯微觀察系統,實現偏光觀察、暗場觀察,熒光觀察等功能。緊湊穩定的高強度機身,充分考慮了顯微操作時的防振要求。儀器采用人機工程學設計,在操作顯微觀察中方便舒適,空間更廣闊。正置(明暗場)芯片檢測顯微鏡大范圍的應用于透明,半透明試樣或不透明試樣物質,比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡,都能有很好的成像效果。

       

      二,詳細參數 

      儀器配置 

      型號 

      DYJ-895 

      目鏡

      大視野 WF10X(視場數Φ22mm)

       

      明暗場無限遠長距平場消色差物鏡

      PL L5X/0.12  BD  工作距離:9.70 mm

      PL L10X/0.25 BD  工作距離:9.30 mm

      PL L20X/0.40 BD  工作距離:7.23mm

      PL L50X/0.70 BD  工作距離:2.50 mm

      PL L80X/0.80 BD  工作距離:1.25 mm

      載物臺

      機械式載物臺,外形尺寸:280mmX270mm,移動范圍:橫向(X)204mm,縱向(Y)204mm

      轉換器

      五孔(內向式滾珠內定位)

      落射照明系統

      12V50W鹵素燈,亮度可調

      內置視場光欄、孔徑光欄、推拉式檢偏器與起偏器

      配磨砂玻璃、藍、黃、綠濾色片

      目鏡筒

      三目鏡30?傾斜, 可100%通光攝影

      調焦機構

      粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:0.7μm。

      防霉

      特有防霉系統

       

       

       

        

       選配件

        

       

       物鏡

      明暗場無限遠長距平場消色差物鏡 PL L40X/0.6 BD

      工作距離:3 mm

      明暗場無限遠長距平場消色差物鏡 PL L60X/0.75 BD  工作距離:1.90 mm

      明暗場無限遠長距平場消色差物鏡 PL L100X/0.85 BD  工作距離:0.4 mm

      目鏡

      大視野 WF16X(Φ11mm)

      分劃  10X(Φ18mm) 格值0.1mm/格

      軟件

      金相組織圖譜評級分析專用軟件

      金相圖像測量分析軟件

      電腦型

      1.金相顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器(CMOS) 4.計算機(選購)

      數碼型

      1.金相顯微鏡 2.適配鏡 3.數碼相機(選購)

       

      三,詳細介紹 

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